- 실리콘 수명주기 전반에 걸쳐 진보된 결정론적 테스트 지원
- IC 설계 검증 DFT(테스트 용이화 설계) 솔루션, 업계 최초의 인시스템 테스트 컨트롤러
지멘스 EDA 사업부
는 오늘 차세대 집적 회로(IC)의 설계단계에서 칩의 공정상 결함이 있는지 체크하는 획기적인 테스트 용이화 설계(DFT) 솔루션인 '테센트 인시스템 테스트(Tessent In-System Test)' 소프트웨어를 출시했다.
노후화 및 환경 요인으로 유발되는 SDC/SDE(Silent Data Corruption/Errors) 같은 중요한 문제를 해결하기 위해 설계된 테센트 인시스템 테스트는 업계를 선도하는 지멘스의 테센트 스트리밍 스캔 네트워크(Tessent Streaming Scan Network) 소프트웨어와 함께 작동하도록 특별히 설계된 업계 최초의 인시스템 테스트 컨트롤러이다.
이러한 호환성을 통해 고객은 제품 수명주기 동안 시스템 내에서 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있으며, 이를 통해 IC와 이를 구동하는 애플리케이션의 안정성과 보안, 완전한 기능을 유지할 수 있다.
지멘스 디지털 산업 소프트웨어 디지털 설계 생성 플랫폼의 담당 수석 부사장 겸 총괄 매니저 앤커 굽타 (Ankur Gupta)는 "테센트 인시스템 테스트는 고객이 실리콘 수명주기 관리 목표를 달성하는 데 있어 중요한 진전"이라고 설명하고, "노후화 및 환경적 요인이 설계에 큰 영향을 미치고 있다. 테센트 인시스템 테스트는 이러한 문제를 해결하는 스마트 솔루션을 제공하여 궁극적으로 고객에게 향상된 성능, 보안 및 생산성을 제공한다"고 밝혔다.
지멘스의 테센트 미션모드(Tessent MissionMode)와 테센트 스트리밍 스캔 네트워크 소프트웨어의 성공을 기반으로, 테센트 인시스템 테스트는 지멘스의 테센트 테스트컴프레스(TestKompress) 소프트웨어로 생성된 결정론적 테스트 패턴의 원활한 통합을 가능하게 한다. 이를 통해 고객은 시스템 내 애플리케이션에 기존 IJTAG 및 SSN 기반 패턴을 재사용하는 동시에 전반적인 칩 구조 설계를 개선하고 테스트 시간을 단축할 수 있다.
지멘스의 테센트 인시스템 테스트 소프트웨어를 사용하면 고객은 테센트 테스트컴프레스와 SSN을 사용하여 생성된 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 업계 표준 APB 또는 AXI 버스 인터페이스를 통해 인시스템 테스트 컨트롤러에 직접 적용할 수 있다.
시스템 내에서 적용되는 결정론적 테스트 패턴은 사전 정의된 테스트 기간 내에서 최고 수준의 테스트 품질을 제공할 뿐만 아니라, 디바이스의 수명주기에 따라 테스트 내용을 변경할 수 있는 기능을 제공한다. 또한 결정론적 패턴이 내장된 인시스템 테스트는 기존 테스트 인프라의 재사용을 지원하고 있다. 이러한 기능은 자동차, 항공우주, 의료 기기 등 안전이 중요한 애플리케이션에 중점을 둔 산업에 특히 중요하다.
AWS의 수석 DFT 매니저 댄 트록(Dan Trock)은 "테센트 인시스템 테스트 기술을 통해 테스트 공정에서 이미 활용하고 있는 광범위한 테스트 인프라와 패턴을 데이터 센터 제품군에 재사용할 수 있다"고 설명하고, "테센트 인시스템 테스트 기술을 통해 데이터 센터에 대한 고품질 필드 테스트가 가능해졌다. AWS 고객은 이제 수명주기 동안 실리콘 디바이스를 지속적으로 모니터링하여 최고의 품질과 안정성을 갖춘 인프라와 서비스의 혜택을 누릴 수 있다"고 밝혔다.
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