- 나노초 단위 하드웨어 동기화로 배터리 건강 모니터링 강화

- 실험실 등급 진단 기능과 고급 모니터링으로 전기화 포트폴리오 확장

- 간소화된 설계로 전기차 안전성 향상 및 고속 충전 지원

 

NXP가 업계 최초로 하드웨어 기반 나노초 수준 동기화 기술을 적용한 전기화학 임피던스 분광법(EIS) 배터리 관리 칩셋을 공개했다. 이 시스템은 전기차와 에너지 저장 장치의 안전성과 성능을 강화하며, 배터리 상태를 정밀하게 분석할 수 있도록 설계됐다.

 

새 칩셋은 EIS 기능을 하드웨어에 직접 내장한 BMS 유닛 3종(BMA7418, BMA6402, BMA8420)으로 구성되어 있으며, 추가 부품 없이 고주파 실시간 모니터링을 할 수 있다. 또한 칩 내부의 이산 푸리에 변환(DFT) 기반 정밀 측정으로 배터리의 고장 징후를 조기에 탐지하고 충전 효율을 높인다.

 

NXP 부사장 나오미 스미트는 “EIS 솔루션은 차량에 실험실 수준의 진단 기능을 제공해 빠르고 안전한 충전 환경을 구현하고, 핀투핀 호환 패키지를 통해 손쉬운 업그레이드를 지원한다”고 밝혔다.

 

이 솔루션은 2026년 상반기 출시 예정이며, NXP S32K358 MCU용 소프트웨어가 함께 제공된다.

 

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